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CDRD540低介电常数雷达物位计

导波雷达发出的高频微波脉冲沿着探测组件(钢缆或钢棒)传播,遇到被测介质,由于介电常数突变,引起反射,一部分脉冲能量被反射回来。发射脉冲与反射脉冲的时间间隔与到被测介质的距离成正比。


容器中存在两种不同介质,当上面一层的介质介电常数较小,而下面的介质介电常数较大时,高频微波脉冲沿着探测组件传播遇到上层介质时,由于其介电常数较小,因而有极少的能量被这一层介面反射,而大部分能量穿透上层介质继续向下传播,遇到两层的介面时,由于下层介质的介电常数较大,因而会有较大的能量被反射回来。因而导波雷达是可以测量两种不同介质的介面,其测量条件是上层介质不导电或其介电常数比下层介质介电常数小10以上。


特  点


由于采用了先进的微波处理器和独特的EchoDiscovery回波处理技术,导波雷达物位计可以应用于各种复杂工况。


多种过程连接方式及探测组件的型式,使得CDGW系列导波雷达物位计适用于各种复杂工况。如:高温、高压及小介电常数介质等。


采用脉冲工作方式,导波雷达物位计发射功率极低,可安装于各种金属、非金属容器内,对人体及环境均无伤害。


应用:液体测量,高温高压工况,复杂过程条件

最大量程: 缆:30m/棒:6m

测量精度:±10mm

过程连接:G1½A/G2A/1½NPT

探测组件材料:不锈钢316L/陶瓷

钢缆/棒直径:¢6mm/¢10mm

过程温度:-200~400℃

过程压力:真空~400bar

信号输出:两线制4~20mA/HART

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